「探索潛能 智創未來」職涯輔導系列講座-半導體應用學士學位學程-2026南華先進半導體封裝與異質整合表面檢測技術論壇 —從表面微觀到良率管理   
活動名稱(Activity Name):「探索潛能 智創未來」職涯輔導系列講座-半導體應用學士學位學程-2026南華先進半導體封裝與異質整合表面檢測技術論壇 —從表面微觀到良率管理
活動類別(Activity Category):就業講座
活動連結 SDGs 項目(SDGs):
報名限制(Identity): 只開放給:教職員、學生(Only open to staff & student)
報名日期(Registration Date):2026/10/2 上午 08:00:00 ~ 2026/10/22 下午 12:00:00
活動日期(Activity Date):2026/10/28 ~ 2026/10/28
活動時間(Activity Time):下午2點30分-4點30分
活動地點(Event Location):W102
活動簡介(Introduction):核心宗旨與政策背景:
配合國家推動「南部大矽谷」及科技產業南移的發展契機,本論壇聚焦於次世代半導體技術,深入探討先進封裝與異質整合 領域中的關鍵技術,並致力於建構跨域整合的精準除錯與檢測藍圖。
主要探討議題:
表面微觀檢測技術:深入解析先進封裝與異質整合結構在微觀層面的表面特性、材料發展及關鍵缺陷檢測技術。
良率管理與失效分析:探討高速傳輸與複雜架構帶來的可靠度挑戰、失效機制,並透過精準檢測數據優化製程,全面提升良率管理效能,協助產業掌握次世代半導體發展契機。

【此講座可申請「奮起飛揚計畫-職能培育獎勵」,詳細內容請至相關申請網站查詢 https://reurl.cc/k8m9q9。】
主辦單位(Organizer): 產學合作及職涯發展處
承辦單位(Implementer): 半導體應用學士學位學程
聯  絡  人(Contact person):唐小姐
聯絡電話(Contact number):05-2721001-2681
人數上限(Maximum number of people):限 70 人   (已報名 46 人)
已過開放報名期限,無法再報名

個資保護聲明
Personal Data Protection Statement
必填 Required
雷達圖示分析:核心能力 圖示